Ni Sampling Cone for Agilent ICPMS OEM : G3280-67040
Le cône d’échantillonnage (Sampling Cone) est la première interface entre le plasma et le spectromètre de masse. Fabriqué en nickel de haute pureté, il est doté d’un orifice de 1,0 mm conçu pour résister aux températures extrêmes du plasma tout en permettant le passage efficace des ions.
Ce composant est essentiel pour maintenir la stabilité du vide et la sensibilité de l’instrument. Sa fabrication de précision garantit une conductivité thermique optimale pour éviter la surchauffe et prolonger la durée de vie de l’interface. Il est recommandé pour les analyses de routine dans une grande variété de matrices d’échantillons.
Ce composant est essentiel pour maintenir la stabilité du vide et la sensibilité de l’instrument. Sa fabrication de précision garantit une conductivité thermique optimale pour éviter la surchauffe et prolonger la durée de vie de l’interface. Il est recommandé pour les analyses de routine dans une grande variété de matrices d’échantillons.
- Spécifications techniques
- Détails
- Caractéristiques
- Informations de commande
- Notes d'application
- Applications
- Equivalences
- Applications & Références
- Colonnes de garde intégrées
- Revêtements des ports d'injection
- Doublures d'injecteurs split/splitless désactivées
- Type de ferrules
- Sélection des filtres en fonction des applications
- Injecteurs et vannes de commutation
- Injecteurs d'échantillons internes
- Phases